Produktivitätssteigerung durch Charakterisierung der Oberflächenstruktur von Schleif- und Abrichtwerkzeugen mit Weisslichtinterferometrie

Überwachungssysteme für die Werkzeuggeometrie und Topgraphie sind in Fertigungsprozessen mit bestimmten Schneiden bereits etabliert. Für Schleifprozesse (ein Spanprozess mit geometrisch unbestimmter Schneide) fehlt jedoch bislang ein zuverlässiges System zur direkten Zustandsüberwachung der Schleifwerkzeuge in der Maschine.

Ziel dieses Innosuisse-Projekts ist die Entwicklung, Erprobung und Validierung eines Messsystems und -prozesses, das die Oberflächenbeschaffenheit von Schleifwerkzeugen direkt in der Werkzeugmaschine mittels Weisslichtinterferometrie (WLI) erfasst. Anhand von Messungen am Werkstück und Werkzeug sollen Korrelationen zwischen der Schleifscheibe, dem Abrichtwerkzeug und der geschliffenen Werkstückoberfläche identifiziert werden.

Das Projekt kombiniert das wissenschaftliche Know-how der Ostschweizer Fachhochschule mit der praktischen Expertise der drei Industriepartner. Ein tieferes Verständnis der Schleifprozesse ermöglicht eine effizientere Nutzung der kostenintensiven Werkzeuge, Produktivitätserhöhung sowie Qualitätsverbesserung.